ASTM F671-99

Standard Test Method for Measuring Flat Length on Wafers of Silicon and Other Electronic Materials (Withdrawn 2003)

NORMA vydána dne 10.12.1999

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1521.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F671-99
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.1999
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F671-99 :

Keywords:
flats, optical comparator, orientation flats, semiconductor, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)