NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F613-93

Test Method for Measuring Diameter of Semiconductor Wafers (Withdrawn 2001)

NORMA vydána dne 1.1.1993

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1760.90 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1760.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F613-93
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1993
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F613-93 :

Keywords:
Diameter-electronic components/devices, Electrical conductors-semiconductors, silicon slices/wafers- diameter, test,, Silicon-semiconductor applications, slices/wafers-diameter, test, ICS Number Code 77.040.01 (Testing of metals in general)