ASTM F525-00a

Standard Test Method for Measuring Resistivity of Silicon Wafers Using a Spreading Resistance Probe (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

NORMA vydána dne 10.12.2000

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1894.50 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1894.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F525-00a
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2000
Počet stran: 14
Přibližná hmotnost: 42 g (0.09 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F525-00a :

Keywords:
calibration, epitaxial layer, resistivity, silicon, spreading resistance, spreading resistance probe, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)