NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F523-93(1997)

Standard Practice for Unaided Visual Inspection of Polished Silicon Wafer Surfaces

NORMA vydána dne 10.12.1997

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1728.00 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1728.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F523-93(1997)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.1997
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F523-93(1997) :

Keywords:
Polished silicon wafers/slices, Visual examination-electronic components/devices, wafers (silicon)-polished, unaided visual inspection, practice,, Silicon semiconductors-slices/wafers, slices (polished)-unaided visual inspection, practice, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)