ASTM F522-94

Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998)

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1519.80 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1519.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F522-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F522-94 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)