ASTM F416-94

Test Method for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 1998)

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (2004.90 CZK)

Tištěné (2004.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F416-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F416-94 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)