ASTM F398-92(2002)

Standard Test Method for Majority Carrier Concentration in Semiconductors by Measurement of Wavenumber or Wavelength of the Plasma Resonance Minimum (Withdrawn 2003)

NORMA vydána dne 15.5.1992

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1774.40 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1774.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F398-92(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.5.1992
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F398-92(2002) :

Keywords:
gallium arsenide, germanium, infrared reflectance, majority carrier concentration, plasma resonance, semiconductors, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)