ASTM F397-02

Standard Test Method for Resistivity of Silicon Bars Using a Two-Point Probe (Withdrawn 2003)

NORMA vydána dne 10.12.2002

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1906.90 CZK)

Tištěné (1906.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F397-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2002
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F397-02 :

Keywords:
polysilicon, resistivity, silicon, two-point probe, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)