Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage (Withdrawn 2003)
NORMA vydána dne 10.12.2002
Označení normy: ASTM F391-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2002
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
diffusion length, minority carriers, polysilicon, silicon, single crystal silicon, surface photovoltag, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)