ASTM F2778-09

Standard Test Method for Measurement of Percent Crystallinity of Polyetheretherketone (PEEK) Polymers by Means of Specular Reflectance Fourier Transform Infrared Spectroscopy (R-FTIR)

NORMA vydána dne 15.11.2009

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1585.80 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1585.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F2778-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.11.2009
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F2778-09 :

Keywords:
crystallinity, Fourier transmission infrared spectroscopy (FTIR), polyetheretherketone (PEEK), specular reflectance, ICS Number Code 83.080.20 (Thermoplastic materials)