ASTM F26-87a(1999)

Standard Test Methods for Determining the Orientation of a Semiconductive Single Crystal (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 3/2/2021).

NORMA vydána dne 1.1.1999

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1790.00 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1790.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F26-87a(1999)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1999
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F26-87a(1999) :

Keywords:
germanium, orientation, preferential etch, semiconductor, silicon, X-ray diffraction, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)