ASTM F1893-98(2003)

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Burnout of Semiconductor Devices

NORMA vydána dne 10.5.1998

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1765.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1893-98(2003)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.5.1998
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1893-98(2003) :

Keywords:
burnout, failure, high dose-rate, integrated circuits, ionizing radiation, latchup, microcircuits, semiconductor devices, survivability, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)