ASTM F1892-06

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

NORMA vydána dne 1.7.2006

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (2513.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1892-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.7.2006
Počet stran: 40
Přibližná hmotnost: 120 g (0.26 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1892-06 :

Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)