ASTM F1892-04

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

NORMA vydána dne 1.5.2004

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (2504.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1892-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.5.2004
Počet stran: 39
Přibližná hmotnost: 117 g (0.26 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1892-04 :

Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)