ASTM F1845-97(2002)

Standard Test Method for Trace Metallic Impurities in Electronic Grade Aluminum-Copper, Aluminum-Silicon, and Aluminum-Copper-Silicon Alloys by High-Mass-Reduction Glow Discharge Mass Spectrometer

NORMA vydána dne 10.12.2002

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1535.40 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1535.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1845-97(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2002
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1845-97(2002) :

Keywords:
aluminum, aluminum-copper alloys, aluminum-copper-silicon alloys, aluminum-silicon alloys, electronics, glow dishcarge mass spectrometer (GDMS), purity analysis, sputtering target, trace metallic impurities, ICS Number Code 29.050 (Superconductivity and conducting materials)