NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F1809-02

Standard Guide for Selection and Use of Etching Solutions to Delineate Structural Defects in Silicon (Withdrawn 2003)

NORMA vydána dne 10.12.2002

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1717.40 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1717.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1809-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2002
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1809-02 :

Keywords:
defect density, dislocation, grain boundary, microscopic, polycrystalline, imperfection, preferential etch, silicon, slip, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)