NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F1771-97(2002)

Standard Test Method for Evaluating Gate Oxide Integrity by Voltage Ramp Technique (Withdrawn 2003)

NORMA vydána dne 10.2.1997

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1794.40 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1794.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1771-97(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.2.1997
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1771-97(2002) :

Keywords:
current density, defect density, electric field strength, extrinsic breakdown, intrinsic breakdown, oxide breakdown, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)