ASTM F1771-97

Standard Test Method for Evaluating Gate Oxide Integrity by Voltage Ramp Technique

NORMA vydána dne 10.2.1997

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1794.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1771-97
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.2.1997
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1771-97 :

Keywords:
current density, defect density, electric field strength, extrinsic breakdown, intrinsic breakdown, oxide breakdown