Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy
NORMA vydána dne 10.1.2002
Označení normy: ASTM F1723-96
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.1.2002
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
contaminants, float-zone crystal growth, impurities, polycrystalline silicon, polysilicon evaluation, segregation coefficient, single crystal silicon, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)