NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F1723-96

Standard Practice for Evaluation of Polycrystalline Silicon Rods by Float-Zone Crystal Growth and Spectroscopy

NORMA vydána dne 10.1.2002

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1751.30 CZK)

Anglicky -
Tištěné (1751.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1723-96
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.1.2002
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1723-96 :

Keywords:
contaminants, float-zone crystal growth, impurities, polycrystalline silicon, polysilicon evaluation, segregation coefficient, single crystal silicon, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)