ASTM F1630-00

Standard Test Method for Low Temperature FT-IR Analysis of Single Crystal Silicon for III-V Impurities (Withdrawn 2003)

NORMA vydána dne 10.12.2000

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1737.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1630-00
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2000
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1630-00 :

Keywords:
analysis of silicon, determination of dopants, determination of impurities, electrically active impurities, Fourier transform infrared, impurities, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)