ASTM F1467-25

Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (?10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits

NORMA vydána dne 1.6.2025

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1731.70 CZK)

Anglicky -

Norma a Redline - Online zabezpečené PDF (2078.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1467-25
Datum vydání normy: 1.6.2025
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1467-25 :

Keywords:
ionizing radiation effects, microcircuits, radiation hardness, semiconductor devices, X-ray testing,, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)