ASTM F143-73(1978)

Method of Test for Thickness of Epitaxial Layers of Silicon by Measurement of Stacking Fault Dimension (Withdrawn 1985)

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (NA DOTAZ)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F143-73(1978)
Poznámka: NEPLATNÁ
Přibližná hmotnost: 300 g (0.66 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM