ASTM F1404-92(1999)

Test Method for Crystallographic Perfection of Gallium Arsenide by Molten Potassium Hydroxide (KOH) Etch Technique

NORMA vydána dne 10.6.1999

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1790.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1404-92(1999)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.6.1999
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1404-92(1999) :

Keywords:
Contamination-semiconductors, Crystal lattice structure, Defects-semiconductors, Density-electronic applications, Etch pit density (EPD), Gallium arsenide, Impurities-semiconductors, KOH etch pits, Microscopic examination-electronic materials, Molten KOH etch technique, Monocrystalline perfection, crystallographic perfection of (doped/undoped) gallium arsenide, ingot/wafer, by molten KOH etch technique, test, ICS Number Code 71.060.50 (Salts)