ASTM F1393-92(1997)

Standard Test Method for Determining Net Carrier Density in Silicon Wafers by Miller Feedback Profiler Measurements With a Mercury Probe

NORMA vydána dne 1.1.1992

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1795.30 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1795.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1393-92(1997)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1992
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1393-92(1997) :

Keywords:
Density-electronic applications, Depth profiling, Diodes, Electrical conductors-semiconductors, Mercury probe, Miller feedback profiler, Net carrier density (in semiconductors), Polished silicon wafers/slices, Probe methods, Resistance and resistivity (electrical)-semiconductors, Schottky barrier diode, Silicon-semiconductor applications, Single-crystal silicon, Voltage, net carrier density profiles in epitaxial/polished bulk silicon wafers,