ASTM F1263-11

Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts

NORMA vydána dne 1.6.2011

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1542.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1263-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2011
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1263-11 :

Keywords:
confidence, rejection, overtest data, statistical analysis, Acceptance criteria/testing, Data analysis, Electrical conductors (semiconductors), Estimated survival probability, Failure end point--electronic components/devices, Microelectronic devices, Overtest data, Probability of survival, Quality assurance (QA), Stress--electronic components/device, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)