ASTM F1260M-96(2003)

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)

NORMA vydána dne 10.6.1996

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1741.10 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1741.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1260M-96(2003)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.6.1996
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1260M-96(2003) :

Keywords:
electromigration, electromigration metallization, integrated circuit, microelectronics, open circuit, resistance increase, time-to-failure