ASTM F1260M-96

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-To-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric]

NORMA vydána dne 1.1.1996

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1741.10 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1741.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1260M-96
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1996
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1260M-96 :

Keywords:
electromigration, electromigration metallization, integrated circuit, microelectronics, open circuit, resistance increase, time-to-failure, ICS Number Code 17.220.20 (Measurement of electrical and magnetic quantities), 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)