Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1688.30 CZK)

Norma a Redline - Online zabezpečené PDF (2026.00 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1688.30 CZK)

Anglicky -

Tisk + redline (2026.00 CZK)

Proč Redline?

Redline představuje rychlý a snadný způsob jak porovnat všechny změny mezi aktuální platnou normou a předchozí verzí.

Díky redline se okamžitě dozvíte o:

doplňcích
vymazaných údajích
a dalších změnách mezi těmito dvěmi normami

Ušetřete si čas i starosti!

Díky Redline již nebudete muset ztrácet čas zjišťováním, co se v nové normě změnilo. Redline Vám ušetří čas a zaručí, že se o změnách v normě dozvíte.

Cena

Pokud si zvolíte možnost "Platná norma + Redline", pak dostanete oba dokumenty! A co je nejlepší, cena Platné normy + Redline je pouze o něco málo vyšší než cena samostatné platné normy.

Zobrazit ukázku Redline

The information about the standard:

Designation standards: ASTM F1192-24
Publication date standards: 1.5.2024
The number of pages: 12
Approximate weight : 36 g (0.08 lbs)
Country: American technical standard
Kategorie: Technické normy ASTM

Annotation of standard text ASTM F1192-24 :

Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)