ASTM F1192-00

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

NORMA vydána dne 10.6.2000

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1960.20 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1960.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1192-00
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.6.2000
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1192-00 :

Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)