
Test Method for Using Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry to Measure the Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices Polished on Both Sides (Withdrawn 1993)
Označení normy: ASTM F1189-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)