
Standard Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption with Short Baseline (Withdrawn 2003)
NORMA vydána dne 10.12.2002
Označení normy: ASTM F1188-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.2002
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
infrared absorption, infrared spectrophotometry, interstitial oxygen, oxygen, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)