NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F1049-00

Standard Practice for Shallow Etch Pit Detection on Silicon Wafers

NORMA vydána dne 10.6.2000

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1614.30 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1614.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1049-00
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.6.2000
Počet stran: 4
Přibližná hmotnost: 12 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1049-00 :

Keywords:
Defects-semiconductors, Etching, Haze, wafers (silicon)- shallow etch pit detection, test,, Microscopic examination-electronic materials, wafers (silicon)- shallowetch pit detection, test, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)