Standard Guide for Background Subtraction Techniques in Auger Electron Spectroscopy and X-Ray Photoelectron Spectroscopy
NORMA vydána dne 15.10.2011
Označení normy: ASTM E995-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.10.2011
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
Auger electron spectroscopy (AES), Background subtraction techniques, Electron radiation, Integral background subtraction, Linear changes/linearity--metals/alloys, Secondary electron analog, Signal processing/display, Spectral data--metals/alloys, Spline technique, Surface analysis--spectrochemical analysis, Tailored modulation techniques (TMT), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), ICS Number Code 17.180.30 (Optical measuring instruments)