NORMSERVIS s.r.o.

ASTM E766-98(2008)e1

Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope (Includes all amendments And changes 3/19/2014).

NORMA vydána dne 15.6.2008

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1877.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E766-98(2008)e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.6.2008
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E766-98(2008)e1 :

Keywords:
calibration, magnification, pitch, scanning electron microscope, Calibration--microscopes, Electron microscopy, Magnification, Scanning electron microscope (SEM), ICS Number Code 37.020 (Optical equipment)