Standard Practice for Characterizing Neutron Energy Fluence Spectra in Terms of an Equivalent Monoenergetic Neutron Fluence for Radiation-Hardness Testing of Electronics
NORMA vydána dne 15.9.1994
Označení normy: ASTM E722-94(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.9.1994
Počet stran: 17
Přibližná hmotnost: 51 g (0.11 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
displacement damage, electronic hardness, gallium arsenide, hardness parameter, silicon, silicon damage, silicon equivalent damage (SED), 1-MeV equivalent fluence, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)