Standard Practice for Characterizing Neutron Fluence Spectra in Terms of an Equivalent Monoenergetic Neutron Fluence for Radiation Hardness Testing of Electronics
NORMA vydána dne 1.2.2026
Označení normy: ASTM E722-19(2026)
Datum vydání normy: 1.2.2026
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
displacement damage, electronic hardness, gallium arsenide, hardness parameter, silicon, silicon damage, silicon equivalent damage (SED), 1 MeV equivalent fluence,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)