Standard Practice for Characterizing Neutron Energy Fluence Spectra in Terms of an Equivalent Monoenergetic Neutron Fluence for Radiation-Hardness Testing of Electronics (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NORMA vydána dne 1.6.2004
Označení normy: ASTM E722-04e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2004
Počet stran: 17
Přibližná hmotnost: 51 g (0.11 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
displacement damage, electronic hardness, gallium arsenide, hardness parameter, silicon, silicon damage, silicon equivalent damage (SED), 1-MeV equivalent fluence, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)