
Standard Practice for Approximate Determination of Current Density of Large-Diameter Ion Beams for Sputter Depth Profiling of Solid Surfaces
NORMA vydána dne 10.4.2000
Označení normy: ASTM E684-95(2000)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.4.2000
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
ion beam sputtering, ICS Number Code 17.220.20 (Measurement of electrical and magnetic quantities)