ASTM E2530-06

Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si(111) Monatomic Steps (Withdrawn 2015)

NORMA vydána dne 1.11.2006

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1917.80 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1917.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E2530-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2006
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E2530-06 :

Keywords:
atomic force microscope, atomic steps, AFM, calibration, measurement, silicon, z-magnification, ICS Number Code 19.020 (Test conditions and procedures in general), 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)