NORMSERVIS s.r.o.

ASTM E2382-04(2020)

Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

NORMA vydána dne 1.12.2020

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1591.50 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1591.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E2382-04(2020)
Datum vydání normy: 1.12.2020
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E2382-04(2020) :

Keywords:
Abbe offset error, creep, dilation, hysteresis, nonlinearity, probe-sample mixing, AFM, STM, tip shape, proximal probe, geometric mixing, image reconstruction,, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)