NORMSERVIS s.r.o.

ASTM E2382-04

Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

NORMA vydána dne 1.8.2004

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1983.30 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1983.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E2382-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.8.2004
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E2382-04 :

Keywords:
Abbe offset error, creep, dilation, hysteresis, nonlinearity, probe-sample mixing, AFM, STM, tip shape, proximal probe, geometric mixing, image reconstruction, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)