ASTM E1855-96

Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors

NORMA vydána dne 10.12.1996

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (2035.60 CZK)

Anglicky -

Tištěné (2035.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1855-96
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.12.1996
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1855-96 :

Keywords:
Displacement damage, Neutron damage, Radiation hardness, Silicon transistors, Spectrum sensors, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectron)