Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NORMA vydána dne 1.6.2004
Označení normy: ASTM E1855-04e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.6.2004
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
displacement damage, neutron damage, radiation hardness, silicon transistors, spectrum sensors, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)