
Standard Practice for Analytically Describing Sputter-Depth-Profile Interface Data by an Extended Logistic Function
NORMA vydána dne 10.9.1999
Označení normy: ASTM E1636-94(1999)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.9.1999
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
logistic function, sputter-depth-profile interface data, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)