ASTM E1634-94(1999)

Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements

NORMA vydána dne 10.4.2002

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1637.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1634-94(1999)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.4.2002
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1634-94(1999) :

Keywords:
Auger electron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry, stylus profilometry, surface analysis , x-ray photoelectron spectroscopy, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)