ASTM E1634-26

Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements

NORMA vydána dne 1.10.2026

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1385.70 CZK)

Norma a Redline - Online zabezpečené PDF (1662.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1634-26
Datum vydání normy: 1.10.2026
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1634-26 :

Keywords:
Auger electron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry, stylus profilometry, surface analysis , X-ray photoelectron spectroscopy,, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)