ASTM E1438-91(1996)

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

NORMA vydána dne 15.9.1991

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1674.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1438-91(1996)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.9.1991
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1438-91(1996) :

Keywords:
data analysis-spectrochemical, depth resolution, interface width, profile distortion, secondary ion mass spectrometry (SIMS)