ASTM E1438-11(2019)

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

NORMA vydána dne 1.11.2019

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1338.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1438-11(2019)
Datum vydání normy: 1.11.2019
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1438-11(2019) :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)