ASTM E1438-06

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

NORMA vydána dne 1.11.2006

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1639.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1438-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2006
Počet stran: 2
Přibližná hmotnost: 6 g (0.01 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1438-06 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)