ASTM E1161-95

Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

NORMA vydána dne 1.1.1995

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1608.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1161-95
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1995
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1161-95 :

Keywords:
Defects,emsemiconductors, Electrical conductors,emsemiconductors, Electronic materials/applications, Sealing glass defects, Voids, X-irradiation, radiographic testing of semiconductors and electronic components, test,, Radiographic testing, semiconductors and electronic components, test,,Order Form, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)